原子間力顕微鏡(AFM)によるラプラスカ測定に基づいたナノ構造の破壊強度に関する考察
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概要
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- 2003-06-26
著者
-
河合 晃
長岡技科大 電気系
-
河合 晃
長岡技術科学大学工学部電気系
-
Kawai A
Mitsubishi Electric Corp. Hyogo
-
Kawai A
Okayama Univ. Graduate School Of Medicine And Dentistry Okayama
-
平野 正人
長岡技科大 電気系
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