河合 晃 | 長岡技科大 電気系
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概要
関連著者
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河合 晃
長岡技科大 電気系
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河合 晃
長岡技術科学大学工学部電気系
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Kawai A
Mitsubishi Electric Corp. Hyogo
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Kawai A
Okayama Univ. Graduate School Of Medicine And Dentistry Okayama
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河合 晃
長岡技科大・工
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阿部 貴人
長岡技科大・工 電気系
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阿部 貴人
長岡技術科学大学 工学部 電機系
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根本 忠哉
長岡技科大 電気系
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大澤 義征
(株)レスカ
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井上 大輔
長岡技術科学大学 電気系
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井上 大輔
長岡技科大・工 電気系
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森池 教夫
長岡技科大・工 電気系
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金子 悦久
長岡技科大・工 電気系
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平野 正人
長岡技科大 電気系
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丹治 隆志
長岡技科大 電気系
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森池 教夫
長岡技術科学大学 工学部 電気系
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金子 悦久
長岡技術科学大学 工学部 電気系
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小井〓 順一
長岡技科大・工 電気系
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松井 正夫
長岡技科大・工
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八井 浄
長岡技科大・工
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升方 勝巳
長岡技科大・工
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八井 浄
長岡技科大
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徳地 明
ニチコン株式会社
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升方 勝巳
長岡技科大
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川神 淳子
長岡技科大
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川上 喜章
長岡技術科学大学 電気系
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新山 雄俊
長岡技科大 電気系
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遠藤 穂高
長岡技科大 電気系
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山中 雅貴
長岡技科大 電気系
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徳地 明
長岡技科大・工
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岡本 祥一
長岡技科大工
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岡本 祥一
長岡技術科学大学:(現)長岡工業高等専門学校
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川上 喜章
長岡技科大・工
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関 明寛
長岡技術科学大学 工学部 電気系
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関 明寛
長岡技科大・工 電気系
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岡本 祥一
長岡技科大
著作論文
- 断面SEM法によるはんだバンプの剥離過程解析
- 角度制御型シェアモード剥離法によるはんだバンプの付着性解析
- 微細領域での接着解析技術の進歩
- 原子間力顕微鏡(AFM)を用いた高分子膜表面に働く相互作用引力の実測と解析
- 高分子膜上での微小気泡の付着・脱離制御
- 30p-Y-7 中イオンビームの開発
- 原子間力顕微鏡(AFM)を用いた疎水化Si基板上における微細レジストパターンの付着力解析
- 原子間力顕微鏡(AFM)を用いた線幅170nmのレジストパターン破壊におけるクラックモデル解析
- 原子間力顕微鏡(AFM)を用いた高分子集合体の凝集・付着性解析
- 原子間力顕微鏡(AFM)による分子間力解析に基づいたエポキシ系接着剤の接着性解析
- 原子間力顕微鏡(AFM)によるラプラスカ測定に基づいたナノ構造の破壊強度に関する考察
- 原子間力顕微鏡(AFM)による高分子集合体のナノスケールでの凝集性解析
- 原子間力顕微鏡(AFM)の微細探針を用いたレジストマイクロパターンの直接剥離(2)
- 2枚の基板で挟まれた高分子膜に生じる Viscous Finger 変形と接着性の解析
- 原子間力顕微鏡(AFM)を用いた疎水及び親水処理後の固体表面の van der Waals 相互作用解析
- Cu/Al多層膜表面に発生した"しわ"による応力分布解析法
- 原子間力顕微鏡を用いた相互作用力の解析 : 高分子微小固体の付着・凝集性
- 原子間力顕微鏡を用いたマニピュレーション技術による微細レジストパターン形成
- 原子間力顕微鏡(AFM)を用いた線幅100nm以下のラインレジストパターンの付着力解析