原子間力顕微鏡(AFM)による高分子集合体のナノスケールでの凝集性解析
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概要
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- 2003-06-26
著者
-
河合 晃
長岡技科大 電気系
-
河合 晃
長岡技術科学大学工学部電気系
-
Kawai A
Mitsubishi Electric Corp. Hyogo
-
Kawai A
Okayama Univ. Graduate School Of Medicine And Dentistry Okayama
-
平野 正人
長岡技科大 電気系
-
丹治 隆志
長岡技科大 電気系
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