Surface Segregation of CaF_2 in Thin Si(111)/CaF_2/Si Multilayers Studied by Total Electron Yield Spectroscopy and In situ Ellipsometry
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概要
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- Published by the Japan Society of Applied Physics through the Institute of Pure and Applied Physicsの論文
- 2005-07-15
著者
-
江島 丈雄
東北大多元研
-
WATANABE Makoto
Institute for Molecular Science
-
EJIMA Takeo
Institute of Multidisciplinary Research for Advanced Materials, Tohoku University
-
OHUCHI Katsumi
Institute of Multidisciplinary Research for Advanced Materials, Tohoku University
-
Ejima Takeo
Institute Of Multidisciplinary Research For Advanced Materials Tohoku University
-
Ohuchi Katsumi
Institute Of Multidisciplinary Research For Advanced Materials Tohoku University
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