Energy-filtered electron diffraction and high-resolution electron microscopy on short-range ordered structure in GaAs_<0.5>Sb_<0.5>
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概要
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- Published for the Japanese Society of Electron Microscopy by Oxford University Pressの論文
- 2002-02-01
著者
-
進藤 大輔
東北大 多元研
-
SHINDO Daisuke
Institute of Multidisciplinary Research for Advanced Materials, Tohoku University
-
Lee C‐w
Institute Of Multidisciplinary Research For Advanced Materials Tohoku University
-
Shindo Daisuke
Institute For Advanced Materials Processing Tohoku University
-
Lee C‐w
The School Of Information Communications And Electronics Engineering The Catholic University Of Kore
-
LEE Chang-Woo
Institute of Multidisciplinary Research for Advanced Materials, Tohoku University
-
IKEMATSU Yoichi
Present address
-
SUZUKI Tohru
Photonics and Wireless Devices Research Laboratories, NEC Corporation
-
ICHIHASHI Toshinari
Silicon Systems Laboratories, NEC Corporation
-
HSU Chung-Chi
Department of Electronic Engineering, The Chinese University of Hong Kong
-
Ikematsu Y
Institute Of Multidisciplinary Research For Advanced Materials Tohoku University
-
Hsu Chung-chi
Department Of Electronic Engineering The Chinese University Of Hong Kong
-
Lee Chang-woo
Institute Of Multidisciplinary Research For Advanced Materials Tohoku University
-
Shindo Daisuke
Institiute For Advanced Materials Processing Tohoku University
-
Suzuki Tohru
Photonics And Wireless Devices Research Laboratories Nec Corporation
-
Lee Chang
Institute Of Functional Genomics School Of Medicine Konkuk University
-
Suzuki Tohru
Photonic and Wireless Devices Research Laboratories, NEC Corporation, 34 Miyukigaoka, Tsukuba, Ibaraki 305-8501, Japan
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