Development of Stroboscopic Microscope Using Fringe Scanning Interferometry Technique(FSIT) (特集「センシング--システムからデバイスまで」)
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概要
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- 計測自動制御学会の論文
- 1997-07-31
著者
-
Hane Kazuhiro
Faculty Of Engineering Tohoku University
-
Eguchi Tadashi
Canon Inc.
-
Okuma Shigeru
Okuma Lab. Dept. Of Information Electronics Nagoya University
-
Okuma Shigeru
School Of Engineering Nagoya University
-
Okuma Shigeru
Department Of Electrical Engineering And Electronics Nagoya University
-
NAKANO Ken
School of Engineering, Nagoya University
-
Nakano Ken
School Of Engineering Nagoya University
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