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Necエレクトロニクス | 論文
- 1.3レイアウト情報を用いた,I_利用による配線短絡対の特定(セッション1「ソフトウェア,故障解析1」)(日本信頼性学会第11回研究発表会報告)
- I_DDQを用いたCMOS-LSIのテスティング・故障解析・故障診断
- 第18回LSIテステイングシンポジウム/1998報告
- LSIの故障解析の為の加工技術-その3-
- LSIの故障解析の為の加工技術-その2-
- LSIの故障解析の為の加工技術-その1-
- LSIテステイングシンポジウム/1996報告
- ハードウエア手法とソフトウエア手法を利用したIDDQテスト
- ハードウエア手法とソフトウエア手法を利用したIDDQテスト
- 三次元LSIチップ間配線技術
- SID2007における回路技術について
- 大型液晶TV向けドライバICの課題と対応--20型を超える大型液晶TV用TFT液晶の駆動とドライバICの仕組み、構成、課題などを解説する (特集1 薄型大画面テレビ全盛時代の要素技術)
- 高速シリアルI/F mini-LVDS搭載ドライバIC μPD160010の開発 (半導体デバイス特集) -- (メディア関連デバイス)
- CuAl合金配線を適用した32nmノード対応高信頼性配線技術の開発
- 耐水性分子細孔SiOCH膜中に形成された高信頼CoWBメタル被覆Cu配線
- 次世代LSIパッケージ用チップ及びパッケージレベルのシームレスインターコネクト技術
- 回路シミュレータ用高精度HJFETゲート容量モデル
- 回路シミュレータ用HJFETモデルの高精度化 : DO特性の温度依存性のモデル化
- 3.3 I_を用いたセル内回路の故障診断技術(セッション3「故障解析・デバイス(2)」)(第16回信頼性シンポジウム発表報文集)
- 3-3 I_ を用いたセル内回路の故障診断技術