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Necエレクトロニクス | 論文
- アクセプタからの電界の二次元的発散を考慮したSOI-MOSFETのしきい値電圧モデル
- 完全空乏化及び部分空乏化型SOI-MOSFETの短チャネル効果に関する容量ネットワークモデルに基づく比較
- SOIMOSFETの基板浮遊効果に及ぼすキャリア消滅の影響についての解析
- 低誘電率有機膜に銅を埋め込んだ高性能配線プロセスの開発
- JEITAにおけるソフトエラー測定ガイドライン作成活動報告 : メモリにおけるソフトエラー測定法の標準化(新メモリ技術,メモリ応用技術,一般)
- XPSによるサブミクロンCuビアホールのクリーニング方法の解析
- 故障診断のための観測性の定量化について(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
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- 24pK-4 微小多孔質アルミナ膜中の量子細線/単一トンネル接合アレイの電気伝導
- PDP用高耐圧ドライバICの開発 (半導体デバイス特集) -- (メディア関連デバイス)
- 2-8 半導体ウエハーの品質向上へのデータマイニングと統計的解析(創立30周年記念第66回研究発表会)
- 2-7 半導体ウエハーの不良パターンとその解析 : 集中不良クラスターへの発生確率の導入(創立30周年記念第66回研究発表会)
- 4.3 半導体ウエハーの不良パターンのクラスタリングによる分類と要因分析(第13回信頼性シンポジウム報告)
- Sess.3-3 半導体ウエハーの不良パターンのクラスタリングによる分類と要因分析(第13回信頼性シンポジウム)
- 3-3 半導体ウエハーの不良パターンのクラスタリングによる分類と要因分析
- C-2-17 WCDMA向けポーラ変調型電力増幅器(C-2.マイクロ波A(マイクロ波・ミリ波能動デバイス),エレクトロニクス1,一般講演,2006年電子情報通信学会エレクトロニクスソサイエティ大会)
- PCM COMBO LSIのPLCC化 (ディジタルLSI特集) -- (通信用LSI)
- 次期アナログ加入者回路用LSI (半導体デバイス)
- 2-3 セル内故障個所の特定(セッション2 試験・LSIの故障解析-1)(日本信頼性学会第17回秋季信頼性シンポジウム報告)
- 「品質談話会について」LSI品質の保証への提案(LSI品質の保証のための提案)