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Necエレクトロニクス | 論文
- 基板近傍の磁界測定による高周波電流分布の推定
- 電源プレーン、グランドプレーンを内層にもつ4層基板近傍の磁界特性
- プリント回路基板近傍における高周波磁界の時間軸波形計測
- 回路近傍の磁界波形測定による不要電磁波放射源の推定
- プリント基板近傍の磁界波形測定に関する一考察
- 静電気放電による金属フレーム上での磁界波形と回路への結合
- 静電気放電による金属フレーム上の磁界強度分布
- 接触放電による金属フレーム上での磁界波形の検討
- CT-2-1 LSI不良・故障解析技術の現状とレーザSQUID顕微鏡の適用(CT-2. SQUID先端検査技術の実用化を目指して,チュートリアルセッション,ソサイエティ企画)
- C-12-32 LSI故障診断用走査レーザSQUID顕微鏡観測画像のシミュレーション(C-12.集積回路ABC,一般講演)
- Ku帯オンチップマッチシリコンMOSFET MMIC
- LSI故障解析手法における最近10年の進展(「信頼性・保全性・安全性の事例:材料・部品・デバイス編」〜信頼性ハンドブック出版から10年を経て〜)
- 光を用いたLSIの故障解析技術(故障物理と信頼性)
- 走査レーザSQUID顕微鏡によるLSIの検査・故障解析
- 2.3ウェハ裏面からの観測が可能なレーザSQUID顕微鏡(セッション2「故障解析2」)(日本信頼性学会第11回研究発表会報告)
- LSIの故障解析技術の最近の動向
- LSI故障解析における光の復権
- SID2003報告 : Display Electronics(Session 30, 36, 42, 48)
- SID2003報告 : Display Electronics (Session 30, 36, 42, 48)(SID'03報告会)
- D-11-34 組込みプロセッサ向けH.264ビデオデコーダ開発(D-11.画像工学A(画像基礎・符号化),一般講演)
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