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Necエレクトロニクス | 論文
- 三次元IC間に挿入された配線体の高周波伝送特性
- WebPanelの開発 (半導体デバイス特集) -- (コンピュ-タ関連デバイス)
- 高密度SRAMの微細化を可能とする階層セルアーキテクチャと多段階ワード線制御方式(SRAM,メモリ(DRAM,SRAM,フラッシュ,新規メモリ)技術)
- 電流駆動差動信号インタフェースMOBILE-CMADSの開発 (半導体デバイス特集) -- (メディア関連デバイス)
- ロバストLow-k(k〜2.5)配線の開発指針とインテグレーションによる性能検証(配線・実装技術と関連材料技術)
- 液晶におけるフルカラ-表示技術 (′94年版液晶デバイスのすべて) -- (LCD新技術)
- 2-3 セル内故障箇所の特定 : スイッチングレベルシミュレーションを用いた診断(セッション2 試験・LSIの故障解析(1),第17回秋季信頼性シンポジウム)
- 2-5 レーザプロービングパッドを用いたLSI内部信号の検出方式(日本信頼性学会第12回研究発表会発表報文集)
- 1.3 レイアウト情報を用いた,I_利用による配線短絡対の特定(セッション1「ソフトウェア・故障解析1」)
- レーザプロービングパッドの作り込みによるLSI内部動作解析
- レーザプロービングパッドの作り込みによるLSI内部動作解析
- 光ディスク用コントロ-ラLSIμPD72053の開発 (半導体デバイス特集) -- (メディア関連デバイス)
- 光ディスク装置向けコントロ-ラ製品の開発 (半導体デバイス特集) -- (メディア系システム用デバイス)
- マイクロコンピュ-タのソフトウェア生産性向上技術 (半導体デバイス) -- (基盤技術)
- 32ビット高級言語デバッガ (ディジタルLSI特集) -- (Vシリ-ズマイクロプロセッサ)
- 高速AGC型600Mbps光受信回路 (通信用デバイス特集) -- (光デバイス)
- 半導体ロードマップ委員会(STRJ/ITRS)紹介
- 「半導体LSIクリーン化の現状と将来」概要
- 半導体プロセスへの分子汚染の影響
- アナログ加入者回路用LSI A2-SLICの開発 (半導体デバイス特集) -- (コミュニケ-ション系システム用デバイス)