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NTT LSI 研究所 | 論文
- 4. プロセス代数を用いた形式的検証 ( 論理設計の形式的検証)
- LSI断面構造の高速表示法 : ピクセルモデル
- 二分決定グラフ(BDD)による命題論理プログラミング
- CBrF3ガスを用いたTaの反応性イオンエッチング
- ECR プラズマ CVD 技術
- アルゴリズム記述からのBDD生成
- 組合せ回路検証の技術
- 二分決定グラフによる制約充足問題の解法
- ゼロサプレス型BDDを用いた非明示的積和形表現の高速因数分解法
- 2. 計算機上での BDD の処理技法 (<特集> BDD (二分決定グラフ))
- 「わくわく」 - 技術革新のキーワード -
- 共有二分決定グラフの「幅」に着目した変数順序づけ手法
- FPGAにおけるI/Oピン数とLUT数の関係に関する一考察
- 論理合成時代のハ-ドウェア設計用標準言語:UDL/I (回路自動合成と最適化論文特集)
- 信号の同期性を学習するホップフィールドネットを用いたパターンパスフィルタ
- 自己学習型アナログニューロチップを用いたパタンパスフィルタの基礎実験
- 0.25μmULSI多層配線のための選択CVD-Alビアプラグ平坦化技術
- ニューラルネットにおける隠れユニット数の統計的評価
- Siにイオン注入されたほう素の拡散現象
- 多重格子制約を有するレイアウトのためのピッチマッチング手法