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(株)半導体理工学研究センター | 論文
- 開ループアンプを用いたパイプラインADCの "Split ADC" 構成によるバックグランド自己校正法
- AK-2-3 回路シミュレータ(AK-2.SoCを支える最新EDA技術,ソサイエティ特別企画,ソサイエティ企画)
- 国際会議報告 : VTS2011(29th IEEE VLSI Test Symposium)(設計/テスト/検証)
- 22pRC-9 歪みシリコンの価電子帯分散構造の実験的解明(22pRC 表面界面電子物性(表面伝導・光電子分光),領域9(表面・界面,結晶成長))
- 低電圧動作可能なコンテンションレス・フリップフロップと2種の電源電圧による整数演算回路のエネルギー効率向上の実証(低電圧/低消費電力技術,新デバイス・回路とその応用)
- 低電圧動作可能なコンテンションレス・フリップフロップと2種の電源電圧による整数演算回路のエネルギー効率向上の実証(低電圧/低消費電力技術,新デバイス・回路とその応用)
- エナジーハーベストを用いた無線センサノードに適用可能な0.5V極低電力回路技術(低電圧/低消費電力技術,新デバイス・回路とその応用)
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- シグマデルタ型タイムデジタイザ回路の検討
- プロセスばらつき推定に基づくIDDQテスト良品判定基準決定の試み (ディペンダブルコンピューティング)
- IDDQ電流による大域プロセスばらつきの推定手法 (VLSI設計技術)
- 低歪み信号発生用DA変換器アーキテクチャ
- プロセスばらつき推定に基づくIDDQテスト良品判定基準決定の試み(ばらつき・フィールドテスト,VLSI設計とテスト及び一般)
- 低電圧・極低電力CMOSロジック回路における回路特性のデバイスパラメータ依存性の評価(IEDM特集(先端CMOSデバイス・プロセス技術))
- 低電圧動作限界に挑戦する極低消費電力LSI回路技術の最新動向 (特集 世界的な競争領域にある最先端デバイス技術) -- (CMOS技術の最前線)
- 1-5 低電圧動作限界に挑戦する極低消費電力LSI回路技術の最新動向(1.CMOS技術の最前線,世界的な競争領域にある最先端デバイス技術)
- システムLSI設計技術者向け教育活動
- プロセスばらつき推定に基づくIDDQテスト良品判定基準決定の試み
- IDDQ電流による大域プロセスばらつきの推定手法(電力/電源解析,システムオンシリコンを支える設計技術)
- ビット線振幅量を抑えるチャージシェア階層ビット線方式を用いた0.4V動作SRAM(依頼講演,メモリ(DRAM,SRAM,フラッシュ,新規メモリ)技術)
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