Yeom H.W | 東北大理学部

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概要

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• 同名の論文著者
• 東北大理学部の論文著者

関連著者

• 河野 省三

  東北大科研

• Yeom H.W

  東北大理学部

• 中村 真之

  東北大科研

• 河野 省三

  東北大・理

• 河野 省三

  東北大

• 中村 真之

  東北大 科研

• 虻川 匡司

  東北大科研

• Yeom H.-w.

  東北大 科研

• Yeom H.-w.

  東北大理:(現)東大理

• 虻川 匡司

  東北大学多原研

• 柿崎 明人

  東大物性研

• 鈴木 章二

  東北大院・理

• 高桑 雄二

  東北大科研

• 虻川 匡司

  東北大多元研

• 虻川 匡司

  東北大学多元物質科学研究所

• 島谷 高志

  東北大科研

• 森 優治

  東北大科研

• 木村 慎之

  東北大科研

• 鈴木 章二

  東北大理学部

• 佐藤 繁

  東北大理学部

• Yeom H

  東大工

• Yeom H.w.

  Yonsei Univ. Seoul Kor

• 吉村 浩司

  高エ研

• SHIVAPRASAD S.M

  東北大 科研

• 虻川 匡司

  東北大理

• Yeom H.-W.

  東北大理

• Chen X.

  Univ. of Wisconsin-Milwaukee

• 河野 省三

  東北大多元研

• 下村 勝

  静岡大電子研

• Shivaprasad S.M

  東北大理学部

• Chen X

  東北大理学部

• 虻川 司

  東北大科研

• 蛇川 匡司

  東北大科研

• 下村 勝

  東北大科研

• 吉村 浩司

  東北大科研

• Oh J

  東大工

• 下村 勝

  静岡大 大学院電子科学研究科

• 虻川 匡司

  東北大学理

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著作論文

• 31p-PSB-45 Core-level photoemission study of In (Al)adsorption on the Si(001)2x1 surface
• 29a-J-7 Surface structure analysis of Si(001)2×2-In and 2×3-In by x-ray photoelectron diffraction
• 5a-Q-4 Submonolayer Growth of Al on a Single-domain Si(001)-2×1 : A LEED and XPS Study
• 27a-PB-10 Surface structures and interface formation of In (Al) adsorption on Si (001) 2x1 studied by photoelectron spectroscopy
• 25aWD-9 光電子回折によるSi(001)(1×2)-Sb表面におけるSi2p内殻準位シフトの同定

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