29a-J-7 Surface structure analysis of Si(001)2×2-In and 2×3-In by x-ray photoelectron diffraction
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 1995-03-16
著者
-
鈴木 章二
東北大院・理
-
中村 真之
東北大 科研
-
SHIVAPRASAD S.M
東北大 科研
-
虻川 匡司
東北大科研
-
Chen X.
Univ. of Wisconsin-Milwaukee
-
河野 省三
東北大科研
-
中村 真之
東北大科研
-
Yeom H.W
東北大理学部
-
Shivaprasad S.M
東北大理学部
-
Chen X
東北大理学部
-
鈴木 章二
東北大理学部
-
佐藤 繁
東北大理学部
-
河野 省三
東北大・理
-
Yeom H.-w.
東北大 科研
-
Yeom H.w.
Yonsei Univ. Seoul Kor
-
Yeom H.-w.
東北大理:(現)東大理
-
河野 省三
東北大
-
虻川 匡司
東北大学多原研
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