大柳 宏之 | 通商産業省工業技術院電子技術総合研究所電子基礎部

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関連著者

• 大柳 宏之

  通商産業省工業技術院電子技術総合研究所電子基礎部

• 大柳 宏之

  電総研

• 山口 博隆

  産総研

• 山口 博隆

  電総研

• 桑原 裕司

  理研 SPring-8

• 西原 美一

  電総研

• 松下 正

  高エ研

• 松下 正

  Kek

• 大柳 宏之

  電子技術総合研究所

• 石井 昌史

  高輝度光セ

• 石井 真史

  高輝度光科学研究センター

• 青野 正和

  理研

• 山谷 和彦

  北大院工

• 山谷 和彦

  北大工

• 岡島 吉俊

  北大工

• 松下 正

  Kek-pf

• 青野 正和

  物材機構mana

• 庄野 安彦

  東北大金研

• 庄野 安彦

  東北大学金属材料研究所

• 大柳 宏之

  産業技術総合研究所

• 坂本 邦博

  電総研

• 坂本 統徳

  電総研

• 山谷 和彦

  北大・理

• 西郷 敏

  自治医大・物理

• 西郷 敏

  自治医大・生理・生物物理

• 西郷 敏

  自治医大

• 関根 ちひろ

  室蘭工大工

• 城谷 一民

  室蘭工大工

• 斉藤 彰

  大阪大学基礎工学部精密科学

• 岡 邦彦

  電総研

• 村田 恵三

  電総研

• 徳本 圓

  電総研

• 鵜木 博海

  電総研

• 鈴木 和也

  横浜国大工

• 李 哲虎

  室蘭工業大学

• 李 哲虎

  電子技術総合研究所

• 常盤 文子

  東北大金研

• 常磐 文子

  東北大・金研

• 石黒 武彦

  京大理:crest(科技団)

• 石黒 武彦

  電総研

• 中島 理

  東北大・金研,理学部

• 片山 利一

  電総研

• 李 哲虎

  電総研

• 片山 利一

  新機能素子研究開発協会

• 横山 侑子

  電総研

• 木村 錫一

  電総研

• 伊原 英雄

  電総研

• 塩田 隆

  電総研

• 石村 巽

  慶大・医

• 石村 巽

  慶大医

• 中島 理

  カシオ計算機

• 橋本 秀樹

  株式会社東レリサーチセンター

• 橋本 秀樹

  東レリサーチセンター(株)

• 川浪 仁志

  電総研

• 泉 康雄

  東京工業大学大学院総合理工学理工学研究科

• 飯塚 哲太郎

  慶大医

• 松下 正

  高工研

• 石井 真史

  JASRI

• 塩田 隆

  電子技術総合研究所

• 鵜木 博海

  電子技術総合研究所

• 中島 理

  東北大・金研 理学部

• 青野 正和

  大阪大学大学院工学研究科精密科学専攻

• 牧野 龍

  慶大医

• 木原 裕

  自治医大

• 平間 仁章

  宇都宮大

• 木村 錫一

  愛媛大工

• サイニ ノーラン

  ローマ大学物理学教室

• 桑原 裕司

  大阪大学基礎工学部精密科学

• TWEET Douglas

  電子技術総合研究所

• Saini Naurang

  University Of Rome "la Sapienza

• BIANCONI Antonio

  University of Rome "La Sapienza"

• Bianconi Antonio

  University Of Rome "la Sapienza

• 泉 康雄

  東京工業大学 大学院総合理工学研究科

• 泉 康雄

  東京工業大学総理工化学環境工学

• 橋本 秀樹

  東レリサーチセ

• 木村 錫一

  愛媛大

• 横山 郁子

  電総研大

• 大柳 宏之

  電総研大

• 山口 博隆

  電総研大

• 伊賀 文俊

  電総研大

• 片山 敏一

  電総研大

• 西原 美一

  電総研大

• 李 哲虎

  産業技術総合研究所

• 大柳 宏之

  通商産業省工業技術院 電子技術総合研究所 電子基礎部基礎物質研究室

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著作論文

• PbBaSrYCu_3O_yおよびPbBaSr(Y,Ca)Cu_3O_yのX線吸収スペクトル
• Nd_Ce_xCuO_の電子状態 : 酸素効果
• 27p-PS-66 TI_2Ba_2CuO_6の局所構造
• 1a-N-6 螢光XANESによるミオグロビンのスピン平衡
• 2p-KK-11 EXAFS迅速測定法IV : 溶液反応の時分割観測の試み
• 挿入光源(BL10XU)と第3世代XAFS -高輝度光源のもたらす新世界-
• 27a-YL-1 金属-絶縁体転移を示すPrRu_4P_のXAFS
• チューナブルX線アンジュレータによるXAFS
• Surface-sensitive XAFS/DAFSによる半導体表面研究
• SRによる表面分析(材料の表面をミクロに測定, 評価する)
• 1p-E-6 EXAFSの成果と展望
• 5a-D3-1 La_2CuO_4単結晶の偏光XANES
• 27a-PS-40 YBaCu_3O_yおよびCaLaBaCu_3O_yの酸素欠陥と超伝導
• 28p-PS-27 CaLaBaCu_3O_yの局所構造と超伝導
• 25a-ZG-6 Si(100)上のGeAs初期成長 : (1)As成長温度依存性
• XASによる電荷・格子ストライプの研究
• La_Sr_xCuO_およびNd_Ce_xCuO_の局所構造と超伝導
• 4a-PS-27 表面敏感XAFSによるGe_nSi_m超格子の研究III. : 局所構造の基板温度依存性
• 4a-PS-26 表面敏感XAFSによるGe_nSi_m超格子の研究VI. : n=2の特異な電子状態
• 「ESRFのBLRPに参加して」 : 放射光施設評価,見聞録
• XAFSの標準化に関する国際ワークショップ報告

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