大柳 宏之 | 電子技術総合研究所

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  通商産業省工業技術院電子技術総合研究所電子基礎部

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  高エネルギー加速器研究機構物質構造科学研究所

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著作論文

• Surface-sensitive XAFS/DAFSによる半導体表面研究
• SRによる表面分析(材料の表面をミクロに測定, 評価する)
• 1p-E-6 EXAFSの成果と展望
• 29p-C-5 表面敏感XAFSからみた2次元成長 : SiGe超格子を中心として
• EXAFSおよび表面EXAFSにおける放射光の利用
• X線吸収スペクトルの時分割測定
• EXAFSによる局所構造解析法--測定と解析法の可能性と限界
• Ba2YCu3Oy局所構造と電子状態 (酸化物高温超伝導体)
• 蛍光EXAFS (放射光利用研究)
• 概観 (実験室でのEXAFS)

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