大平 理覚 | Necシステム実装研究所
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概要
関連著者
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大平 理覚
Necシステム実装研究所
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大平 理覚
NEC光デバイス事業部
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小野 隆志
Necネットワーキング研究所
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福知 清
Nec C&cメディア研究所
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関谷 かや人
Necネットワーキング研究所
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小笠原 大作
NECシステムプラットフォーム研究所
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福知 清
日本電気株式会社システムプラットフォーム研究所
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野田 有秀
NECシステムプラットフォーム研究所
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天宮 泰
NECデバイスプラットフォーム研究所
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天宮 泰
日本電気株式会社
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小野 隆志
Nec情報通信メディア研究本部
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山崎 仁
NECデバイスプラットフォーム研究所
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大平 理覚
NEC情報通信メディア研究本部
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福知 清
Nec システムプラットフォーム研
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和田 茂巳
日本電気(株)光・超高周波数デバイス研究所
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伊東 俊治
Necネットワーキング研究所
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和田 茂己
NEC システムデバイス研究所
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福知 清
NECネットワーキング研究所
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小笠原 大作
NECネットワーキング研究所
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大平 理覚
日本電気株式会社
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和田 茂己
NECデバイスプラットフォーム研究所
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大平 理覚
NECネットワークス光デバイス事業部
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森江 正夫
NECネットワーキング研究所
-
福知 清
NEC情報通信メディア研究本部
-
関谷 かや人
NEC情報通信メディア研究本部
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小笠原 大作
NEC情報通信メディア研究本部
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笠松 直史
Necネットワーキング研究所
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伊東 俊治
Nec C&c メディア研究所
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福知 清
NECシステムプラットフォーム研究所
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伊東 俊治
NECシステムプラットフォーム研究所
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矢野 隆
日本電気株式会社光ネットワーク事業部
-
吉田 信秀
NECデバイスプラットフォーム研究所
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竹下 仁士
NECネットワーキング研究所
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竹下 仁士
日本電気株式会社システムプラットフォーム研究所
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竹下 仁士
NECシステムプラットフォーム研究所
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和田 茂己
NEC研究企画部
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野田 有秀
NECナノエレクトニクス研究所
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笠松 直史
NEC光・無線デバイス研究所
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伊東 俊治
NEC情報通信メディア研究本部
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原田 高志
NECシステム実装研究所
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肱岡 健一郎
NECエレクトロニクスLSI基礎開発研究所
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田中 慎一
Nec光・超高周波デバイス研究所
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泊 史朗
日本電気株式会社
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山口 博史
日本電気株式会社
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岡本 稔
Necエンジニアリング(株)
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小野 隆志
Necビジネスイノベーションセンター
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竹内 剛
Nec光無線デバイス研究所
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藤田 定男
日本電気株式会社第一伝送通信事業部
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田中 慎二
日本電気株式会社
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田辺 昭
Necエレクトロニクス(株)
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藤田 定男
NECシステムプラットフォーム研究所
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石田 尚志
NECシステム実装研究所
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藤田 定男
日本電気株式会社エレクトロニクス研究所
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山瀬 知行
日本電気株式会社
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帰山 隼一
日本電気株式会社
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野口 栄実
日本電気株式会社
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山崎 仁
日本電気株式会社
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細谷 健一
日本電気株式会社
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正田 裕明
日本電気株式会社
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池田 博伸
日本電気株式会社
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高橋 次男
日本電気株式会社
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野田 有秀
日本電気株式会社
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川原 信広
日本電気株式会社
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森林 茂
NEC光デバイス事業部
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大平 理覚
NEC C&Cメディア研究所
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栗岡 千立
NECエンジニアリング
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福知 清
NEC 情報通信メディア研究本部
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関谷 かや人
NEC 情報通信メディア研究本部
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大平 理覚
NEC 情報通信メディア研究本部
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小野 隆志
NEC 情報通信メディア研究本部
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竹内 剛
Nec光・無線デバイス研究所
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田辺 昭
Necエレクトロニクス
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肱岡 健一郎
Necエレクトロニクス
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肱岡 健一郎
Necエレクトロニクス(株)
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野口 栄実
NECシステムIPコア研究所
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田中 愼一
芝浦工業大学工学部
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細谷 健一
Nec システムプラットフォーム研
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福知 清
NEC システムプラットフォーム研究所
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伊東 俊治
NEC システムプラットフォーム研究所
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塩入 智美
NECシステムプラットフォーム研究所
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矢野 隆
NEC C&C メディア研究所
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洲崎 哲行
NEC C&C メディア研究所
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鈴木 康之
旭川医科大学 眼科学講座
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ル・タヤンディエ・ドゥ・ガボリ エマニュエル
Necシステムプラットフォーム研究所
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福知 清
NEC ネットワーキング研究所
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小野 隆志
NEC ネットワーキング研究所
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小野 隆志
NEC C&Cメディア研究所
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大網 敏正
NEC通信システム
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竹内 剛
NEC 光・無線デバイス研究所
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天宮 泰
NEC 光・無線デバイス研究所
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鈴木 康之
Necシステムプラットフォーム研究所
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矢野 隆
NEC 光エレクトロニクス研究所
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石田 尚志
日本電気(株)システム実装研究所
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大平 理覚
NEC 生産技術研究所
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山崎 仁
NEC システムデバイス研究所
-
天宮 泰
NEC システムデバイス研究所
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竹下 仁士
NEC システムプラットフォーム研究所
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野田 有秀
NEC 生産技術研究所
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大網 敏正
日本電気テレコムシステム株式会社
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大網 敏正
NEC光デバイス事業部
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馬場 直人
NECエンジニアリング
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野田 有秀
NEC光デバイス事業部
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野田 有秀
NEC第三伝送通信事業部
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鈴木 康之
NEC光・超高周波デバイス研究所
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朔晦 正志
NEC伝送デバイス事業部
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森林 茂
NEC第三伝送通信事業部
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朔晦 正志
日本電気(株)伝送デバイス事業部
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丹羽 隆樹
NEC 光・超高周波デバイス研究所
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丹羽 隆樹
NEC化合物デバイス事業部
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菅原 弘人
NECネットワーキング研究所
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大坪 理覚
NECネットワーキング研究所
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笠松 直史
NEC 光・無線デバイス研究所
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森江 正夫
NEC ネットワーキング研究所
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大平 理覚
NEC ネットワーキング研究所
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伊東 俊治
NEC ネットワーキング研究所
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関谷 かや人
NEC ネットワーキング研究所
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小笠原 大作
NEC ネットワーキング研究所
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伊東 俊治
NEC 情報通信メディア研究本部
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小笠原 大作
NEC 情報通信メディア研究本部
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矢野 隆
NECネットワークデバイス事業部
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永野 暢雄
NEC光・超高周波デバイス研究所
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福知 清
NEC 光エレクトロニクス研究所
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永野 暢雄
NEC 光・超高周波デバイス研究所
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中善寺 知広
NEC第一伝送通信事業部
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洲崎 哲行
Nec C&cメディア研究所
-
洲崎 哲行
Nec C&cメディア研
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中善寺 知広
日本電気株式会社 Necネットワークス 光ネットワーク事業本部 光デバイス事業部
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鈴木 康之
Nec光・無線デバイス研究所
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福知 清
Nec ネットワーキング研
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小野 隆志
Nec ネットワーキング研
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ル・タヤンディエ・ドゥ・ガボリ エマニュエノレ
日本電気株式会社グリーンプラットフォーム研究所
著作論文
- C-12-38 65nmCMOSを用いた大容量光通信向け40-Gb/sトランシーバ(1)(C-12.集積回路,一般セッション)
- C-12-39 65nmCMOSを用いた大容量光通信向け40-Gb/sトランシーバ(2)(C-12.集積回路,一般セッション)
- B-10-51 分布ラマン増幅を併用した40Gb/s×8波-80km×5中継波長多重伝送実験
- BCS-2-7 超高速光通信向け電気分散補償技術(BCS-2.超高速光通信システムの鍵を握る分散補償技術,シンポジウム)
- BCS-2-7 超高速光通信向け電気分散補償技術(BCS-2.超高速光通信システムの鍵を握る分散補償技術,シンポジウム)
- 40Gb/s信号向け広帯域波形イコライザモジュールの開発および波長多重長距離光伝送実験系での動作検証(高効率FEC,電気処理による分散・PMD補償技術,波形モニタリング,一般)
- B-10-43 広帯域波形イコライザ・モジュールによる100Gb/s DQPSK信号の歪補償(B-10.光通信システムA(線路),一般講演)
- B-10-140 広入力ダイナミックレンジを有する 40-Gb/s 光受信器の開発
- B-10-111 AC-RZ 変調方式と 195(μm)^2 A_ PSCF による波長数増減に対して透明な 40Gb/s WDM 1000km 超伝送実験
- B-10-90 3波長帯を用いた10.92TP/s WDM光中継伝送実験
- 3バンドを用いた超高密度WDM 10.92Tb/s 光中継伝送実験
- 3バンドを用いた超高密度WDM 10.92Tb/s 光中継伝送実験
- 3バンドを用いた超高密度WDM 10.92Tb/s光中継伝送実験
- B-10-153 偏光多重・分離技術を用いた 6.4Tb/s(160 x 40Gb/s) WDM 伝送実験
- 偏光多重・分離技術を用いた6.4Tb/s(160×40Gb/s)-186km WDM伝送実験
- 偏光多重・分離技術を用いた6.4Tb/s(160x40Gb/s)-186km WDM伝送実験
- 偏光多重・分離技術を用いた6.4Tb/s(160 x 40Gb/s)-186km WDM伝送実験
- 40Gb/sベース高密度WDM伝送における変調方式依存性の実験的検討
- B-10-75 CS-RZ変調方式を用いた1.6Tb/s(40Gb/sx40波WDM)SMF 480km伝送実験
- B-4-51 EBG構造によるLSI-プリント基板間の電磁ノイズ漏洩抑制技術(B-4.環境電磁工学,一般セッション)
- GaAs HBT-ICモジュールを用いた40Gb/s RZ光パルス受信実験
- B-10-94 光フィルタを用いたVSB信号生成に関する一検討
- B-10-135 狭スペクトル、高非線形耐力を有する Alternate-chirped RZ 変調方式の提案
- B-4-31 EBG構造によるLSI-プリント基板間の電磁ノイズ漏洩抑制技術におけるアンダーフィル樹脂の影響(B-4. 環境電磁工学,一般セッション)