周 桂喜 | 静岡大学電子工学研究所

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概要

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関連著者

• 周 桂喜

  静岡大学電子工学研究所

• 中西 洋一郎

  静岡大学電子工学研究所

• 畑中 義式

  静岡大学電子工学研究所

• 周 桂喜

  静岡大学大学院電子科学研究科

• 畑中 義式

  静岡大

• 荻田 正巳

  静岡大学工業短期大学部

• 島岡 五朗

  The University of New South Wales

• 中西 洋一郎

  静岡大

• 島岡 五朗

  静岡大学電子工学研究所

• 荻田 正巳

  静岡大 工

• 鈴木 友久

  静岡大学電子工学研究所

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著作論文

• CaS薄膜EL素子における絶縁層/透明電極の界面状態
• シリコン陽極酸化過程における発光現象の「その場」測定
• ホットエレクトロン注入型EL(HEI-EL)素子とその改善
• 3)HEI-EL(ホットエレクトロン注入型EL)素子の発光特性(情報入力研究会)
• HEI-EL(ホットエレクトロン注入型EL)素子の発光特性
• ホットエレクトロン注入型EL(HEI-EL)素子
• CaS/Y2O3/SiO2/ITO多層発光薄膜の界面におけるSiO2層の効果 (第28回真空に関する連合講演会プロシ-ディングス)

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