児玉 典昭 | 日本電気(株)ULSIメモリ事業部

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概要

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• 日本電気(株)ULSIメモリ事業部の論文著者

関連著者

• 児玉 典昭

  日本電気(株)ULSIメモリ事業部

• 小山 健一

  日本電気(株)ulsiデバイス開発研究所

• 北野 友久

  Necエレクトロニクス株式会社

• 北野 友久

  NEC Electronics Corporation

• 小山 健一

  日本電気株式会社ulsiデバイス開発研究所

• 北野 友久

  日本電気(株)

• 堀川 貢弘

  日本電気(株)

• 岡澤 武

  NEC

• 金森 宏治

  NEC ULSIデバイス開発研究所

• 久宗 義明

  NEC ULSIデバイス開発研究所

• 岡澤 武

  NEC ULSIデバイス開発研究所

• 久保田 大志

  NEC ULSIデバイス開発研究所

• 村松 諭

  日本電気ULSIデバイス開発研究所

• 斎藤 賢治

  日本電気ulsiデバイス開発研究所メモリ開発部

• 小山 健一

  日本電気ulsiデバイス開発研究所メモリ開発部

• 堀川 貢弘

  日本電気(株)ulsiデバイス開発研究所

• 白井 浩樹

  Necエレクトロニクス株式会社

• 久保田 大志

  日本電気(株)ULSIデバイス開発研究所

• 村松 諭

  日本電気(株)ULSIデバイス開発研究所

• 岡澤 武

  日本電気(株)ULSIデバイス開発研究所

• 白井 浩樹

  日本電気ULSIデバイス開発研究所メモリ開発部

• 児玉 典昭

  日本電気ULSIデバイス開発研究所メモリ開発部

• 金森 宏治

  日本電気ULSIデバイス開発研究所メモリ開発部

• 久宗 義明

  日本電気ULSIデバイス開発研究所メモリ開発部

• 岡澤 武

  日本電気ULSIデバイス開発研究所メモリ開発部

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著作論文

• フラッシュメモリー過剰消去メカニズムの解析 : スケーリング則に対する新しい制約
• 2段階消去法によるフラッシュメモリ消去しきい値制御

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