村松 諭 | 日本電気(株)ULSIデバイス開発研究所

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概要

• 同名の論文著者
• 日本電気(株)ULSIデバイス開発研究所の論文著者

関連著者

• 北野 友久

  Necエレクトロニクス株式会社

• 北野 友久

  NEC Electronics Corporation

• 北野 友久

  日本電気(株)

• 堀川 貢弘

  日本電気(株)

• 岡澤 武

  NEC

• 久保田 大志

  NEC ULSIデバイス開発研究所

• 村松 諭

  日本電気ULSIデバイス開発研究所

• 堀川 貢弘

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• 久保田 大志

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• 村松 諭

  日本電気(株)ULSIデバイス開発研究所

• 児玉 典昭

  日本電気(株)ULSIメモリ事業部

• 岡澤 武

  日本電気(株)ULSIデバイス開発研究所

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著作論文

• フラッシュメモリー過剰消去メカニズムの解析 : スケーリング則に対する新しい制約

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