糸井 貴臣 | 北見工業大学電気電子工学科:(現)千葉大学

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• 北見工業大学電気電子工学科:(現)千葉大学の論文著者

関連著者

• 糸井 貴臣

  北見工業大学電気電子工学科:(現)千葉大学

• 武山 真弓

  北見工業大学電気電子工学科

• 野矢 厚

  北見工業大学工学部電気電子工学科

• 野矢 厚

  北見工業大学電気電子工学科

• 武山 真弓

  北見工業大学工学部電気電子工学科

• 武山 真弓

  北見工業大学

• 野矢 厚

  北見工業大学

• 青柳 英二

  東北大学金属材料研究所

• 佐藤 和美

  北見工業大学電気電子工学科:(現)(株)日立国際電気

• 梁田 修

  北見工業大学電気電子工学科

• 坂上 正和

  北見工業大学電気電子工学科

• 梁田 修

  北見工業大学電気電子工学科:(現)(株)エスイーシー

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著作論文

• Cu/SiO_2間の極薄VNバリヤの劣化メカニズム(電子部品・材料, 及び一般)
• Cu/VN/SiO_2/Si構造におけるナノクリスタルVNバリヤの有用性
• Cu/SiコンタクトにおけるZrNバリヤの構造がバリヤ特性に及ぼす影響
• 高信頼Cu配線のための微結晶ZrNバリヤの適用

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