高橋 琢二 | 東京大学生産技術研究所
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概要
関連著者
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高橋 琢二
東京大学生産技術研究所
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才田 大輔
東京大学生産技術研究所
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和田 恭雄
東洋大学バイオ・ナノエレクトロニクス研究センター
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筒井 謙
東洋大学バイオ・ナノエレクトロニクス研究センター
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筒井 謙
早稲田大学ナノテクノロジー研究所
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江面 知彦
早稲田大学ナノテクノロジー研究所
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和田 恭雄
早稲田大学ナノテクノロジー研究所
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和田 恭雄
早稲田大学 ナノテクノロジー研究所
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小野 志亜之
東京大学生産技術研究所
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荒川 泰彦
東京大学ナノエレクトロニクス連携研究センター
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荒川 泰彦
東京大学
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鄭 昌鎬
santec株式会社
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藤田 博之
東京大学生産技術研究所マイクロメカトロニクス国際研究センター
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年吉 洋
東京大学生産技術研究所マイクロメカトロニクス国際研究センター
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年吉 洋
東京大学生産技術研究所
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諫本 圭史
santec株式会社
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高橋 琢二
東京大学
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角嶋 邦之
東京大学生産技術研究所
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横川 隆司
東京大学生産技術研究所マイクロメカトロニクス国際研究センター
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泰井 祐輔
東京大学生産技術研究所
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藤田 博之
東京大学生産技術研究所
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鄭 昌鎬
Santec（株）
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横川 隆司
東京大学生産技術研究所
著作論文
- 27p-C-8 電子線誘起MOCVDとそのGaAs細線形成への応用
- 磁気力顕微鏡を利用した電流誘起磁場測定における電流定量評価の可能性(計測・高周波デバイス)
- 磁気力顕微鏡を利用した電流誘起磁場測定系の空間分解能の評価(計測・高周波デバイス)
- ヤリーヴ 光エレクトロニクス 基礎編, Amnon Yariv(著), 多田邦雄, 神谷武志(監訳), 石川卓哉, 板谷太郎, 伊藤文彦, 岡田至崇, 鎌田憲彦, 土屋昌弘, 中野義昭, 中林隆志, 林秀樹(共訳):"ヤリーブ 光エレクトロニクス 基礎編", 丸善(2000-03);A5判, 定価(本体4,800円+税)
- フッ酸，オゾン，HMDSを用いたMEMSデバイスの全気相処理によるスティクション力の低減
- 磁気力顕微鏡を利用した電流誘起磁場測定系の空間分解能の評価
- 磁気力顕微鏡による電流路周囲の磁場勾配検出(計測・高周波デバイス)
- C-7-6 交流電流が作る GaAs/AlGaAs メサストライプ周辺磁界の磁気力顕微鏡観察
- 磁気力顕微鏡による電流路周囲の磁場検出
- 交流電流が作るGaAs/AlGaAsメサストライプ周辺磁界の磁気力顕微鏡観察
- KFM による GaAs(110) 面上 InAs 薄膜表面のポテンシャル計測
- 第2回走査プローブスペクトロスコピー国際会議