KFM による GaAs(110) 面上 InAs 薄膜表面のポテンシャル計測

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概要

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• 日本表面科学会の論文
• 2001-05-10

著者

• 高橋 琢二

  東京大学生産技術研究所

• 小野 志亜之

  東京大学生産技術研究所

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