横田 康広 | 岡山理科大学・自然研
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概要
関連著者
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横田 康広
岡山理科大学・自然研
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横田 康広
岡山理科大
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横田 康広
岡山理科大学・自然科学研究所
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横田 康広
岡山理大理
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大谷 槻男
岡山理大理
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横田 康広
岡山理大・理
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大谷 槻男
岡山理大・理
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大谷 槻男
岡山理大
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大谷 槻男
岡山理大 理
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横田 康広
岡山理科大学自然科学研究所
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岡田 祐二
岡山理科大学・大学院
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平井 正明
岡山大学自然科学研究科
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長岡 紀幸
岡山理大理
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日下 征彦
岡山大学自然科学研究科
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岩見 基弘
岡山大理
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村井 寿生
岡山理科大学・大学院
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岡田 祐二
岡山理大理
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平井 正明
岡山大理
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日下 征彦
岡山大理
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笠石 修司
四工研
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金枝 敏明
岡山理科大学
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橘 幸男
岡山理大理
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長岡 紀幸
岡山理大・理
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中村 初夫
大阪電通大
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渡部 宏邦
松下電器産業(株)
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渡部 宏邦
(株)松下電器産業
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加納 博文
千葉大学理学部化学科
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湯 衛平
高圧研
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大井 健太
産業技術総合研究所四国センター
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馮 旗
香川大学工学部材料創造工学科
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山内 庄一
日本電装基礎研究所
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松浦 孝一郎
岡山理科大学大学院理学研究科
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中村 初夫
大阪電通大工
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大井 健太
四国工技研
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渡辺 宏邦
松下電器
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金枝 敏明
岡山理大
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山田 俊男
富士写真フィルム機器事業部
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岡田 祐二
岡山理大・理
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小倉 寿典
岡山理大理
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吉原 春明
岡山理大理
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小橋 寿夫
岡山大理
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構田 康広
岡山理大分析センター
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山内 庄一
岡山大 理
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平井 正明
岡山大 理
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日下 征彦
岡山大 理
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岩見 基弘
岡山大 理
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小林 司
日電アネルバ
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秋山 直人
電通大
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山内 庄一
岡山大理
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秋山 昭次
(株)クラレ
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大谷 槻男
岡山理科大
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東 大助
TOWA(株)
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堀内 繁雄
無機材研
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馮 旗
高知大・理
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井原 朗博
岡山理科大学・理
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牛田 誠
岡山理科大学・理
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澤田 浩明
岡山理大・理
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澤田 浩明
大阪大学大学院基礎工学研究科
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横溝 精一
岡山県工業技術センター
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吉田 耕平
岡山理科大学大学院理学研究科
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馮 旗
高知大理
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山崎 仲道
高知大理
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柳沢 和道
高知大学理学部附属水熱化学実験所
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横溝 精一
岡山県庁
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西山 大輔
岡山理科大院
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大井 健太
四国工業技術試験所
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堀内 繁雄
三菱ガス科学(株)総合研究所
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東 大助
岡山理科大学大学院
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槇田 洋二
四工研
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加納 博文
四工研
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大井 健太
四工研
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笠石 修司
四国工業技術研究所
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湯 衛平
高温高圧流体技術研究所
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槇田 洋二
四国工業技術研究所
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加納 博文
四国工業技術研究所
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槙田 洋二
四国工研
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柳澤 和道
高知大理
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笠石 修司
岡山理科大学
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Hahn P.O.
Wacker Silitoronics
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Kerstan M.
Wacker Silitoronics
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Helmreich D.
Wacker Silitoronics
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橋本 道廣
岡山理科大学大学院理学研究科
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佐藤 文晃
岡山理科大学理学部
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中嶋 稔
岡山理科大学・大学院
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大塚 啓介
シンコー電器
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山田 俊男
富士写真フィルム(株)機器事業本部
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山田 俊男
富士写真フイルム
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大井 健太
四国工業技術研究所
著作論文
- イメージングプレートの消去過程を用いた光学記録
- β-Cu_Se(x=0.25)の低温相の電子回折
- 29a-P-5 β-Cu_Seの相転移の電子顕微鏡観察
- 29a-B-8 低次元カルコゲナイドBaCu_4S_3の相転移のTEM観察
- 12p-DL-3 擬一次元カルコゲナイドTlCu_7S_4の相転移のTEM観察
- Si基板上へのSiC-Buffer層の成長 : 気相成長I
- 27a-ZS-10 Niシリサイド形成過程におけるSi基板方位依存症 (II) : 高温熱処理により形成されるシリサイド層の評価
- 30a-L-3 GTC-CVD法によるエピタキシャルAl/Si(111)界面の断面TEM観察
- 27a-ZD-6 Niシリサイド形成過程におけるSi基板方位依存性
- トンネル(2x4)構造を持つ酸化マンガン化合物alk-RUB-7の合成とTEM観察
- 擬一次元カルコゲナイドの特性と相転移--InxNb3Te4およびACu7S4(A=TI,K,Rb)について (特集 硫化物の物性と製造プロセス)
- 25p-K-12 擬一次化合物In_xNb_3Te_4のCDW転移の低温電子回折
- 30p-YM-6 超高圧電子線照射によるGe-Si, Si超格子中のGeの拡散
- 透過型電子顕微鏡による無酸素銅切削加工面微細組織の調査
- 精密切削加工面表層の内部組織-HV-TEMによる微細組織観察-
- リチウムマンガン酸化物からのリチウム抽出過程の研究
- リチウムマンガン酸化物(Li_2MnO_3)のリチウム抽出反応による構造変化
- 1F16 水熱ソフト化学法によるマンガン酸物のトンネル構造制御
- ラッピング過程でのシリコン・ウェーハ表面の評価
- 断面観察法による半導体界面の評価 (電子顕微鏡による材料研究の最前線-上-)
- トンネル型マンガン酸化物のTEM画像シミュレーション
- 透過型電子顕微鏡の試料冷却
- トンネル型酸化マンガン化合物alk-RUB-7(alk=K,Cs)の物性測定と電子顕微鏡観察
- 透過型電子顕微鏡による各種断面の観察法
- Co/Si (100) 界面でのシリサイド化過程の断面TEM観察
- 調査報告 最近の透過型電子顕微鏡および走査電子顕微鏡の技術