武田 道彦 | 名工試

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概要

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関連著者

• 武田 道彦

  名工試

• 安田 匡一郎

  名工試

• 安田 匡一郎

  名古屋工業技術研究所

• 増田 晴穂

  National Industrial Research Institute of Nagoya

• 生田 史朗

  名工試

• 増田 晴穂

  名工試

• 和田 隆夫

  名古屋工大

• 宮地 孝

  東大核研

• 吉岡 正和

  京大理

• 宮地 孝

  核研

• 佐藤 勇

  高エネルギー研

• 奥野 英城

  核研

• 奥野 英城

  東大核研

• 和田 隆夫

  名大工

• 金持 徹

  名工試

• 久寿米木 朝雄

  高エ研

• 秋野 吉夫

  東大核研

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• 五味 和男

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• 久寿米木 朝雄

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• 三品 昌紀

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• 佐藤 勇

  核研

• 五味 和男

  東大核研

• 三品 昌紀

  東大核研

• 和田 隆夫

  三重大工

• 吉田 富彦

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• 生田 史郎

  名工試

• 和田 隆夫

  三重大.工

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著作論文

• 3p-K-2 中間領域における電子対発生断面積の測定
• Plastic Scintilltonによる高X線量率測定 : 放射線物理
• LinacのPulsed X-rayを利用したRadiography : 応用原子核・放射線
• 23p-L-1 半導体の照射損傷における欠陥レベルと欠陥生成率の決定法
• 5a-G-11 P型Siの電子線照射損傷
• 3a-TA-2 Si中の電子線照射による欠陥の分布

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