人工膜を用いた化学センサ---生体に学ぶ計測化学 (1993年の化学-12-)
スポンサーリンク
概要
著者
関連論文
- 徳川斉昭の電池 : 現存する金属塩の同定分析
- 27a-W-15 銀の全反射X線光電子分光
- 誘導結合プラズマ発光分析法によるフッ化ランタン(III)-フッ化ストロンチウム固体電解質中のランタン及びストロンチウムの定量
- 走査トンネル顕微鏡の針の近づけ方とSN比の向上
- 走査プロ-ブ顕微鏡の化学への応用 (1989年の化学-12-)
- 放射光による分析の極限 (極限技術と応用物理特集号) -- (分析・計測技術の極限)
- 蛍光X線微量分析 (強力X線の利用研究)
- SRによる蛍光X線分析の可能性 (〔昭和59年度日本鉱物学会〕シンポジウム) -- (軌道放射光とその応用)
- 超微量分析
- 蛍光X線ホログラフィー
- 放射光蛍光X線分析を用いる合成ダイヤモンドの不純物解析
- トンネルギャップイメージング法による分子吸着及び非吸着黒鉛表面のトンネル障壁高さの比較
- 大型放射光施設SPring-8によるX線分析の新展開
- 研究の新潮流を
- 液膜振動系の振動モ-ド変化
- 大学の教育改革と大学院重点化
- 人工膜を用いた化学センサ---生体に学ぶ計測化学 (1993年の化学-12-)
- 原子を視る (見えないものを視る--可視化技術とその展開) -- (他分野における可視化技術)
- STMによる分子像観察 (1992年の化学-12-)
- 放射光を用いる吸収端でのX線分光 (1991年の化学-12-)
- 異常分散の分析化学への応用 (1990年の化学-12完-)
- 有効性が再認識された全反射X線分析 (1988年の化学-12完-)
- 高分解能蛍光X線分析法による毛髪中の硫黄の状態分析
- 討 46 放射光 X 線分析(IV 金属材料の極微量分析, 第 113 回講演大会討論会講演概要)
- 計測化学
- 走査型トンネル分析顕微鏡
- 分析化学とイメ-ジング (1987年の化学-12-)
- 金コロイド水溶液を用いた近赤外光励起表面増強ラマン散乱強度の定量性
- 分析化学から分析科学へ : 第1部
- 黒鉛炉原子吸光法による植物試料中のコバルト及びニッケルの定量
- 黒鉛炉原子吸光法による血清中のリチウムの直接定量
- 走査型トンネル顕微鏡
- 走査トンネル顕微鏡法の発展 (1986年の化学-12-)
- P-32 PAM・PBDを用いた各種化学材料の評価(ポスター・セッション)
- 石炭フライアッシュ中の硫黄状態分析と浸出液中硫酸イオン量との比較(石炭利用と分析化学)
- 石炭中硫黄の化学分析法,状態分析法及び形態分析法の比較(石炭利用と分析化学)
- 化学結合状態による Ca Kα, Kβ の変化 : I. CaKαについての検討
- 吸着濃縮/単粒子光音響測定法によるカドミウムの定量(超微量分析のための前処理と予備濃縮)
- 1996機器分析東京討論会
- 振動反応
- AlKaによるAlの配位状態分析 : 5配位Alの測定
- 非破壊分析の最近の動き (1985年の化学-11-)
- F-2 パルスレーザー励起による光音響顕微鏡の基礎解析(音響顕微鏡)
- P-32 光音響顕微鏡による半導体材料の評価(ポスター・セッション)
- 高分解能X線分光法による状態分析
- 高分解能X線分光法による状態分析
- A-5 レーザ誘起格子による超音波の発生と計測化学への応用(音波物性)
- G-4 光音響分光法による懸濁試料の特性評価(光音響)
- 蛍光X線分析法 (極微量分析の現状と定量下限)
- シンクロトロンX線分析と走査トンネル顕微鏡 (局所・超微量分析) -- (最表面の構造分析)
- A Comparison of Two Smoothing Methods as Pre-Processing for Iterative Deconvolution
- 表面・界面の分析法 (セラミックスの表面,界面を探る)
- 最近の分光法の触媒への応用--PAS及びEXAFS
- 光音響分光法-界面分析にどう生かすか