合志 陽一 | 東大工
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概要
関連著者
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合志 陽一
東大工
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合志 陽一
東京大学大学院工学系研究科応用化学専攻
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合志 陽一
東大 大学院
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沢田 嗣郎
東京大学工学部工業分析化学教室
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宮村 一夫
東京大学大学院工学系研究科応用化学専攻
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早川 慎二郎
広大工
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早川 慎二郎
Department Of Applied Chemistry Hiroshima University
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早川 慎二郎
東京大学大学院工学系研究科応用化学専攻
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合志 陽一
東京大学工学部
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合志 陽一
東京大学大学院工学系研究科
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古谷 圭一
東京理科大学理学部応用化学科
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Harata Akira
Department Of Molecular And Material Sciences Kyushu University
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Harata Akira
Department Of Industrial Chemistry Faculty Of Engineering University Of Tokyo
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宮村 一夫
東京大学工学部工業化学科
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古谷 圭一
東京理科大学・理学部
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原田 明
東大工
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原田 明
九州大学大学院総合理工学府物質理工学専攻
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笠井 正信
東大・工
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沢田 嗣郎
東大・工
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合志 陽一
東大・工
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渡辺 友治
東理大・理
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奥村 昭彦
東大工
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宮村 一夫
東京大学工学部
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吉久 寛
東京大学大学院工学系研究科応用化学専攻
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沢田 嗣郎
東大工
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早川 慎二郎
広島大 大学院工学研究科
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若槻 雅男
筑波大学
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後藤 俊治
理化学研究所X線自由電子レーザー計画推進本部
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後藤 俊治
高輝度光科学研究センター
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河合 潤
京大工
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後藤 俊治
Jasri
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北島 義典
高エネルギー加速器研究機構pf
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河合 潤
京都大学大学院工学研究科材料工学専攻
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二瓶 好正
東京大学生産技術研究所
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後藤 俊治
理研
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古谷 圭一
東理大理
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古谷 圭一
東理大・理
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早川 慎二郎
東大工
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北島 義典
高エ研PF
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前田 邦子
理研
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澤田 嗣郎
東京大学工学部
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賈 暁鵬
筑波大学物質工学系
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澤田 嗣郎
東京大学大学院工学研究科
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合志 陽一
国立環境研究所
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林 好一
京都大学大学院工学研究科材料工学専攻
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若槻 雅男
筑波大学物質工学系
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蛭川 秀一
東京大学大学院工学系研究科応用化学専攻
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吉久 寛
東京大学工学部応用化学科
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斉 文啓
中国科学技術大学
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林 好一
京都大学大学院工学研究科
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前田 邦子
理化学研究所
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河合 潤
京都大学大学院工学研究科
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薛 育明
東京大学工学部工業化学科
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藤井 正昭
日立エネルギー研
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笠井 正信
東大工
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Hayashi K
Photodynamics Research Center Riken (institute Of Physical And Chemical Research)
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北森 武彦
日立エネルギー研
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沢田 嗣郎
東大(工)
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合志 陽一
東大(工)
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古谷 圭一
東京理科大学
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二瓶 好正
東京大学生産技術研究所:(現)東京大学生産技術研究所
著作論文
- 27a-W-15 銀の全反射X線光電子分光
- 走査トンネル顕微鏡の針の近づけ方とSN比の向上
- 走査プロ-ブ顕微鏡の化学への応用 (1989年の化学-12-)
- 蛍光X線ホログラフィー
- 放射光蛍光X線分析を用いる合成ダイヤモンドの不純物解析
- トンネルギャップイメージング法による分子吸着及び非吸着黒鉛表面のトンネル障壁高さの比較
- 大型放射光施設SPring-8によるX線分析の新展開
- 液膜振動系の振動モ-ド変化
- 人工膜を用いた化学センサ---生体に学ぶ計測化学 (1993年の化学-12-)
- 原子を視る (見えないものを視る--可視化技術とその展開) -- (他分野における可視化技術)
- STMによる分子像観察 (1992年の化学-12-)
- 放射光を用いる吸収端でのX線分光 (1991年の化学-12-)
- 異常分散の分析化学への応用 (1990年の化学-12完-)
- 有効性が再認識された全反射X線分析 (1988年の化学-12完-)
- 計測化学
- 分析化学とイメ-ジング (1987年の化学-12-)
- 黒鉛炉原子吸光法による植物試料中のコバルト及びニッケルの定量
- P-32 PAM・PBDを用いた各種化学材料の評価(ポスター・セッション)
- 吸着濃縮/単粒子光音響測定法によるカドミウムの定量(超微量分析のための前処理と予備濃縮)
- F-2 パルスレーザー励起による光音響顕微鏡の基礎解析(音響顕微鏡)
- P-32 光音響顕微鏡による半導体材料の評価(ポスター・セッション)
- 高分解能X線分光法による状態分析
- A-5 レーザ誘起格子による超音波の発生と計測化学への応用(音波物性)
- G-4 光音響分光法による懸濁試料の特性評価(光音響)
- 蛍光X線分析法 (極微量分析の現状と定量下限)
- シンクロトロンX線分析と走査トンネル顕微鏡 (局所・超微量分析) -- (最表面の構造分析)
- 光音響分光法-界面分析にどう生かすか