オージェ電子分光装置を利用した壁材の2次電子放出率の測定
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概要
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An Auger Electron Spectrometer (AES) was employed to determine the secondary electron yield of various wall materials. The yield is related to the surface composition which is modified by surface treatments including baking, argon ion etching, exposure to the air, etc. We applied these results to decrease the yield of inner wall of the JT-60 RF waveguides, and showed that the yield monitoring is an effective way for estimating the degree of surface cleaning of the wall materials.
- 日本真空協会の論文
著者
-
池田 佳隆
日本原子力研究開発機構
-
村上 義夫
日本原子力研究所那珂研究所
-
阿部 哲也
日本原子力研究所 那珂研究所
-
池田 佳隆
日本原子力研究所那珂研究所
-
広木 成治
日本原子力研究所 那珂研究所
-
村上 義夫
日本原子力研究所核融合研究センター
-
廣木 成治
日本原子力研究所那珂研究所
-
池田 佳隆
日本原子力研究所
-
池田 佳隆
日本原子力研究所 那珂研究所
-
阿部 哲也
日本原子力研究所
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