Bi系超伝導薄膜における相変化及び過剰原子の挙動
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概要
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The behavior of excess atoms and the formation of the high-Tc phase were investigated on thin films crystallized from the amorphous Bi-Sr-Ca-Cu-O prepared by a rf magnetron sputtering. In the films which have more Ca and Cu than the stoichiometric 80K phase composition, formation of the 80K phase may cause the segregation of excess Ca and Cu atoms of grain boundaries by annealing at the special temperature range. Segregation and the vaporization of them have unfavorable influence on the surface structure and the electrical property. And by annealing at lower temperature, excess atoms do not segregate in spite of formation of the 80K phase. But, in the films which once formed the 80K phase, the 110K phase could not be obtained by post-annealing.
- 社団法人 粉体粉末冶金協会の論文
著者
-
藤村 紀文
大阪府立大学大学院工学研究科電子・数物系専攻
-
伊藤 太一郎
大府大院工
-
伊藤 太一郎
阪府大工
-
伊藤 太一郎
大阪府立大学工学部
-
永井 智
大阪立大学大学院
-
藤村 紀文
大阪立大学工学部
-
伊藤 太一郎
大阪立大学工学部
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