The Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits-Past, Present, and Future
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概要
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Throughout the decades of continuous advances in semiconductor technology, from the discrete devices of the late 1950s to today's billon-transistor system-on-chip, there have always been concerns about the ability of components to operate safely in an increasingly disruptive electromagnetic environment. This paper provides a nonexhaustive review of the research work conducted in the field of electromagnetic compatibility (EMC) at the IC level over the past 40 years. It also brings together a collection of information and trends in IC technology, in order to build a tentative roadmap for the EMC of ICs until the year 2020, with a focus on measurement methods and modeling approaches.
著者
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和田 修己
京大 大学院工学研究科
-
和田 修己
岡山大学工学部電気電子工学科
-
WADA Osami
Department of Electrical Engineering of the Graduate School of Kyoto University
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