C-2-61 ミリ波CMOSオンチップディエンベディングにおける測定ばらつきが及ぼすデバイス評価結果への影響(C-2.マイクロ波B(マイクロ波・ミリ波受動デバイス),一般セッション)
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概要
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- 一般社団法人電子情報通信学会の論文
- 2014-03-04
著者
-
藤島 実
広島大学大学院先端物質科学研究科
-
吉田 毅
広島大学大学院 先端物質科学研究科
-
本良 瑞樹
広島大学大学院先端物質科学研究科
-
高野 恭弥
広島大学大学院先端物質科学研究科
-
片山 光亮
広島大学大学院先端物質科学研究科
-
天川 修平
広島大学大学院先端物質科学研究科
-
折井 瑛彦
広島大学大学院先端物質科学研究科
-
水津 雅史
広島大学大学院先端物質科学研究科
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