25aYF-6 フェルミ面マッピング法によるSi(111)5x2-Au表面の電子構造研究(25aYF 表面界面電子物性,領域9(表面・界面,結晶成長分野))
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概要
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- 一般社団法人日本物理学会の論文
- 2002-03-01
著者
-
松田 巌
東大理
-
Baumberger Felix
スイス国チューリッヒ大学物理学科
-
Hengsberger Matthias
スイス国チューリッヒ大学物理学科
-
Greber Thomas
スイス国チューリッヒ大学物理学科
-
WoongYeom Han
韓国延世大学物理学科
-
Osterwalder Jurg
スイス国チューリッヒ大学物理学科
-
松田 巌
東大理:スイス国チューリッヒ大学物理学科
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