C-8-18 キャパシタンスを付加したJosephson接合のEscape Rate測定(C-8.超伝導エレクトロニクス)

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概要

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• 2013-03-05

著者

• 吉川 信行

  横浜国立大学大学院 工学府

• 吉川 信行

  横浜国立大学 工学部 電子情報工学科

• 室 健太郎

  横浜国立大学工学府

• 山梨 裕希

  横浜国立大学大学院

• 向山 隆志

  横浜国立大学大学院工学府

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