28pXS-5 MnをドープしたBiFeO_3のXAFS測定(28pXS 誘電体(マルチフェロイック,シミュレーション他),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))

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概要

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• 2013-03-26

著者

• 野口 祐二

  東大先端研

• 宮山 勝

  東大先端研

• 米田 安宏

  原子力機構

• 北中 佑樹

  東京大学先端科学技術研究センター

• 北中 佑樹

  東大先端研

• 野口 祐二

  東大先端科技セ

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