27pEG-11 62.5-250keV/u H_2^+とC_2^+イオン衝撃により炭素薄膜から放出される二次電子収量の膜厚依存性(27pEG 放射線物理(放射線損傷・阻止能・二次電子放出・クラスター),領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))
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概要
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- 2013-03-26
著者
-
的場 史朗
立教大理
-
斎藤 勇一
原子力機構
-
石川 法人
原子力機構
-
山田 圭介
原子力機構高崎
-
須貝 宏行
原子力機構
-
鳴海 一雅
日本原子力研究開発機構先端基礎研究センター
-
鳴海 一雅
原子力機構
-
高橋 康之
原子力機構先端基礎セ
-
千葉 敦也
原子力機構高崎
-
前田 佳均
原子力機構先端基礎セ
-
斎藤 勇一
原子力機構高崎
-
鳴海 一雅
原子力機構高崎
-
的場 史朗
立教大理:(現)原研高崎
-
的場 史朗
原子力機構高崎
-
須貝 宏行
原子力機構原子力基礎工
-
石川 法人
原子力機構原子力基礎工
-
山田 圭介
原子力機構
-
千葉 敦也
原子力機構
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