柱状欠陥を導入したYBCO薄膜におけるピンニングパラメータの磁場角度依存性
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概要
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- 2005-11-21
著者
-
石川 法人
原子力機構
-
渡辺 和雄
東北大学金研・強磁場センター
-
淡路 智
東北大学金研・強磁場センター
-
知見 康弘
原子力機構
-
石川 法人
日本原子力研究所
-
藤吉 孝則
熊本大学工学部
-
藤吉 孝則
熊本大学情報電気電子工学科
-
末吉 哲郎
熊本大
-
末吉 哲郎
熊本大学
-
池上 知顯
熊本大学
-
知見 康弘
日本原子力研究開発機構安全研究センター
-
春田 正和
産業技術総合研究所
-
藤吉 孝則
熊本大学
-
宮川 隆二
熊本県工業技術センター
-
知見 康弘
日本原子力研究所
-
春田 正和
熊本大学工学部
-
末吉 哲郎
熊本大学工学部
-
宮原 邦幸
熊本大学工学部
-
池上 知顯
熊本大学工学部
-
蛯原 健治
熊本大学工学部
-
平湯 直志
熊本大学工学部
-
蛯原 健二
熊本大学工学部
-
蛯原 健治
(株)同仁化学研究所
-
蛯原 健治
熊本大学
-
渡辺 和雄
東北大学金属材料研究所
-
淡路 智
東北大学金属材料研究所
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