25pYJ-9 放射光によるXPS,XANES測定を用いたAg-Si,Pd-Si系の照射誘起偏析の研究(放射線物理,領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 2005-03-04

著者

• 土田 秀次

  京大院工

• 石川 法人

  原子力機構

• 岩瀬 彰宏

  大阪府大院工

• 岩瀬 彰宏

  大阪府立大

• 岩瀬 彰宏

  阪府大院工

• 石川 法人

  原研東海

• 知見 康弘

  原研東海

• 知見 康弘

  原子力機構

• 馬場 祐治

  原研放射光科学研究センター

• 加藤 雄三郎

  大阪府大

• 福住 正文

  阪府大工

• 岩瀬 彰宏

  阪府大先端研

• 知見 康弘

  日本原子力研究所

• 馬場 祐治

  原研

• 加藤 雄三郎

  阪府大

• 石川 法人

  原研先端基礎

• 知見 康弘

  原研先端基礎

• 土田 秀次

  京大・工

• 福住 正文

  千葉大工

• 石川 法人

  原研

• 知見 康弘

  原研

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