20aAH-2 重イオン照射誘起変形の寸法・格子定数同時測定による照射欠陥評価(20aAH 格子欠陥・ナノ構造(点欠陥・照射損傷・水素・炭素系),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))

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概要

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• 一般社団法人日本物理学会の論文
• 2012-08-24

著者

• 土田 秀次

  京大院工

• 伊藤 秋男

  京大院工

• 今井 誠

  京大院工

• 柴田 裕実

  京大院工

• 葛西 信太郎

  京大院工

• 間嶋 拓也

  京大院工

• 間嶋 拓也

  京大院工QSEC

• 土田 秀次

  奈良女大理

• 若林 洋平

  京大院工

• 南川 英輝

  京大院工

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