22pRE-5 高速イオン照射下欠陥生成の陽電子寿命その場計測(放射線物理(固体内衝突・損傷過程),領域1,原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理)

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 2007-08-21

著者

• 土田 秀次

  京大院工

• 伊藤 秋男

  京大院工

• 足立 旬

  京大院工

• 岩井 岳夫

  東大院工

• 秋吉 優史

  京大院工

• 土田 秀次

  大院工

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