25aAB-8 アバランシェフォトダイオードによる二次電子個数分布の測定(25aAB 放射線物理(放射線損傷・放射線計測),領域1(原子・分子,量子エレクトロニクス,放射線物理))

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概要

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• 2012-03-05

著者

• 中野 祐司

  首都大学東京理工学研究科

• 東 俊行

  理化学研究所基幹研究所

• 東 俊行

  首都大院理工

• 土田 秀次

  京大院工

• 伊藤 秋男

  京大院工

• 今井 誠

  京大院工

• 柴田 裕実

  京大院工

• 須田 慎太郎

  首都大理工

• 間嶋 拓也

  京大院工

• 土田 秀次

  奈良女大理

• 岸本 孝則

  京大院工

• 中野 祐司

  理研原子分子物理

• 西尾 達哉

  京大工

• 東 俊行

  理研原子分子物理:首都大理工

• 東 俊行

  理研

• 中野 祐司

  理研

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