タイミングマージンを考慮した製造後スキュー調整のためのテスト計画(システム設計技術(2),デザインガイア2012-VLSI設計の新しい大地-)
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概要
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製造後の個別チップに対して,あらかじめ回路に組み込まれた遅延調整回路(PDE)にてクロックキューを調整することで,製造ばらつきによる遅延ばらつきの影響を吸収する方式が考えられている.本稿では,動作時の遅延・タイミング変動による誤動作を防ぐためのタイミング余裕を考慮した製造後スキュー調整(PDE調整)アルゴリズムを提案する.提案する手続きは,セットアップタイミングテスト・ホールドタイミングテストとそれに基づくPDE調整量更新を繰り返すものであり,タイミング余裕を考慮したタイミングテストに特徴がある.
- 2012-11-19
著者
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