5-11 65nm CMOS プロセスでの偏光計測イメージセンサの開発(第5部門 情報センシング)
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概要
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To realize a miniaturization of the sensor chip for μTAS system, we propose a polarization analyzing image sensor using 65nm CMOS process for the first time. We describe the design details and characterization of our proposed CMOS image sensor. By the fabricated sensor, polarization property is successfully measured.
- 一般社団法人映像情報メディア学会の論文
- 2010-08-31
著者
-
宍戸 三四郎
奈良先端科学技術大学院大学物質創成科学研究科
-
野田 俊彦
奈良先端科学技術大学
-
太田 淳
奈良先端科学技術大学院大
-
笹川 清隆
奈良先端科学技術大学院大
-
宍戸 三四郎
奈良先端科学技術大学院大学 物質創成科学研究科
-
徳田 崇
奈良先端科学技術大学院大学
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