26pCL-6 La添加PbTiO_<3-δ>のカチオン空孔占有サイトの陽電子寿命法による評価(26pCL 格子欠陥・ナノ構造・フォノン(金属・ナノ粒子・点欠陥・水素材料),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン))

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概要

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• 2012-03-05

著者

• 荒木 秀樹

  阪大工

• 水野 正隆

  阪大工

• 白井 泰治

  京大工

• 水野 正隆

  阪大院工

• Araki H

  Dakin Ind. Ltd. Osaka Jpn

• 荒木 秀樹

  大阪大工

• Araki H

  Osaka Univ. Suita Jpn

• 北岡 大輔

  阪大院

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