23pVE-7 LaNi_5の水素化過程における空孔の安定性に関する第一原理計算(23pVE 格子欠陥・ナノ構造(光物性・微粒子・水素・陽電子),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 2008-08-25
著者
-
荒木 秀樹
阪大工
-
水野 正隆
阪大工
-
白井 泰治
京大工
-
白井 泰治
Graduate School Of Engineering Kyoto University
-
水野 正隆
阪大院工
-
Araki H
Dakin Ind. Ltd. Osaka Jpn
-
Araki Hideki
Department Of Materials Science And Engineering Osaka University
-
荒木 秀樹
大阪大工
-
Shirai Yasuharu
Department Of Materials Science And Engineering Kyoto University
-
Araki H
Osaka Univ. Suita Jpn
-
Araki H
Departmento Of Nuclear Engineering Nagoya University
-
Shirai Yasuharu
Dep. Of Materials Sci. And Engineering Kyoto Univ.
-
Araki Hideki
Graduate School Of Engineering Osaka University
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