22aYM-3 バルクアモルファスZr_<55>Al_5Cu_<10>Ni_<30>の陽電子寿命(格子欠陥・ナノ構造(陽電子・転位・面欠陥),領域10(誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性))

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 2005-08-19

著者

• 荒木 秀樹

  阪大工

• 水野 正隆

  阪大工

• 白井 泰治

  Graduate School Of Engineering Kyoto University

• 白井 泰治

  大阪大学大学院工学研究科

• 杉田 一樹

  阪大院工

• 松本 昌高

  阪大院工

• 荒木 秀樹

  大阪大学大学院工学研究科

• 水野 正隆

  大阪大学大学院工学研究科

• 水野 正隆

  阪大院工

• Araki H

  Dakin Ind. Ltd. Osaka Jpn

• Araki Hideki

  Department Of Materials Science And Engineering Osaka University

• 荒木 秀樹

  大阪大工

• 松本 昌高

  大阪大学院

• 杉田 一樹

  大阪大学院

• Araki H

  Osaka Univ. Suita Jpn

• Shirai Yasuharu

  Dep. Of Materials Sci. And Engineering Kyoto Univ.

• Araki Hideki

  Graduate School Of Engineering Osaka University

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