24aTD-5 水素吸放出繰返により形成された格子欠陥によるLaNi_5の劣化(領域10,領域9合同格子欠陥・ナノ構造(水素),領域10,誘電体,格子欠陥,X線・粒子線,フォノン物性)

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概要

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• 社団法人日本物理学会の論文
• 2007-08-21

著者

• 荒木 秀樹

  阪大工

• 水野 正隆

  阪大工

• 河林 毅

  大阪大学

• 白井 泰治

  Graduate School Of Engineering Kyoto University

• 荒木 秀樹

  阪大工学研究科

• 河林 毅

  阪大大学院

• 水野 正隆

  阪大工学研究科

• 白井 泰治

  阪大工学研究科

• 水野 正隆

  阪大院工

• Araki H

  Dakin Ind. Ltd. Osaka Jpn

• Araki Hideki

  Department Of Materials Science And Engineering Osaka University

• 荒木 秀樹

  大阪大工

• Araki H

  Osaka Univ. Suita Jpn

• Araki H

  Departmento Of Nuclear Engineering Nagoya University

• Shirai Yasuharu

  Dep. Of Materials Sci. And Engineering Kyoto Univ.

• Araki Hideki

  Graduate School Of Engineering Osaka University

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