24aYM-3 β^+-γ同時計測による金属間化合物TiAlの陽電子寿命高温その場測定(格子欠陥・ナノ構造,領域10(誘電体, 格子欠陥, X線・粒子線, フォノン物性))
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概要
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- 社団法人日本物理学会の論文
- 2005-03-04
著者
-
荒木 秀樹
阪大工
-
水野 正隆
阪大工
-
白井 泰治
Graduate School Of Engineering Kyoto University
-
薮内 敦
阪大工
-
白井 泰治
大阪大学大学院工学研究科
-
荒木 秀樹
大阪大学大学院工学研究科
-
薮内 敦
大阪大学学生
-
水野 正隆
大阪大学大学院工学研究科
-
水野 正隆
阪大院工
-
Araki H
Dakin Ind. Ltd. Osaka Jpn
-
Araki Hideki
Department Of Materials Science And Engineering Osaka University
-
荒木 秀樹
大阪大工
-
Araki H
Osaka Univ. Suita Jpn
-
Shirai Yasuharu
Dep. Of Materials Sci. And Engineering Kyoto Univ.
-
Araki Hideki
Graduate School Of Engineering Osaka University
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