113 マイクロ試験による個別粒界強度評価(OS-1 粒界・転位)
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概要
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- 2010-03-16
著者
-
北村 隆行
京都大学大学院工学研究科
-
澄川 貴志
京都大学院
-
北村 隆行
京都大学大学院工学研究科機械物理工学専攻
-
井手 修平
京都大学
-
北村 隆行
京大工
-
三浦 照光
INSS
-
三浦 照光
株式会社原子力安全システム研究所
-
澄川 貴志
京大工
-
井手 修平
京大院
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