C-12-12 一軸応力検知用SOI-MOSFETひずみ検出回路の試作評価(センサ・有線通信,C-12.集積回路,一般セッション)
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概要
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- 2010-08-31
著者
-
原田 知親
山形大学大学院理工学研究科電気電子工学分野
-
奥山 澄雄
山形大学
-
松下 浩一
山形大学大学院理工学研究科電気電子工学専攻
-
奥山 澄雄
山形大学大学院理工学研究科電気電子工学専攻
-
渡辺 紘生
山形大学大学院理工学研究科電気電子工学専攻
-
松下 浩一
山形大学大学院理工学研究科電気電子工学分野
-
奥山 澄雄
山形大学大学院理工学研究科電気電子工学分野
-
原田 知親
山形大学大学院理工学研究科
-
松下 浩一
山形大学大学院理工学研究科
-
奥山 澄雄
山形大学大学院理工学研究科
-
原田 知親
山形大学
-
奥山 澄雄
山形大学工学部
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