325 X線応力測定におよぼす微視的表面形状の影響(残留応力測定・イメージング,残留応力の評価と応用,オーガナイスドセッション3)
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概要
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- 社団法人日本材料学会の論文
- 2008-05-23
著者
-
秋田 貢一
東京都市大学
-
大谷 眞一
武蔵工業大学
-
秋田 貢一
武蔵工業大学 工学部 機械システム工学科
-
大谷 眞一
武蔵工大
-
秋田 貢一
武蔵工業大学
-
和田 英之
武蔵工業大学
-
宮下 大輔
武蔵工業大学[院]
-
宮下 大輔
武蔵工業大学
-
秋田 貢一
東京都立大学大学院工学研究科機械工学専攻
-
Akita Koichi
Dept. Of Mechanical Systems Engineering Musashi Inst. Of Tech.
-
秋田 貢一
武蔵工業大学工学部機械システム工学科
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